National Key Laboratory of Welding, Harbin Institute of Technology, Harbin, 150001, P.R.CHINA;
机译:回流焊接过程中凸点金属化下含Ti / Cu / Ni的95Pb5Sn倒装芯片焊点中的英特尔金属化合物形成和形貌演变
机译:Sn基焊料/ Cu接头凝固过程中的Cu_6Sn_5析出及其对界面金属间化合物生长的影响
机译:Cu_6Sn_5金属间化合物的不对称生长归因于熔融SnAg焊点中Cu的快速热迁移
机译:LA对改进SN-PB焊点Cu_6Sn_5英特尔金属化合物生长的影响
机译:电迁移增强了无铅焊点中铜-锡金属间化合物的动力学,并使用分步和闪光压印光刻技术进行了铜低k双大马士革工艺。
机译:纳米粒子添加对不同热条件下Cu / Sn-Ag-Cu / Cu焊点中金属间化合物(IMCs)的形成和生长的影响
机译:SN-PB电镀中引线对无铅焊点热疲劳可靠性的影响。