Department of Electronics, Aichi Institute of Technology, Toyota 470-0392, Japan;
机译:p型硅中氢与注入诱导的点缺陷相互作用的等时退火研究
机译:高温快速热退火后低剂量砷和硼注入的硅中残留缺陷的热行为
机译:退火的1.5 MeV硼注入的p型硅中的缺陷
机译:氢气注入硼植入的P型硅缺陷的部分退火
机译:6氢碳化硅和4氢碳化硅中本征和离子注入引起的缺陷的电学和光学表征。
机译:在不同的注入后退火后p型铝注入的4H-SiC层上的欧姆接触
机译:5-KeV和1-KeV硼注入硅的非熔融激光退火
机译:用热辅助非相干光闪光退火硼注入硅