机译:功函数变化和线边缘粗糙度对TFET和FinFET器件以及32位CLA电路的影响†
机译:超低压数字VLSI电路的隧道FET:第一部分—器件级的器件-电路相互作用和评估
机译:使用杂通道MOSFET和隧穿FET器件评估0.2 V以下的高速低功率电路
机译:使用混合隧道FET和FinFET器件评估32位超前进位加法器电路
机译:用于能效的Sub-10nm双栅极FinFet的装置电路分析
机译:随机离散掺杂剂引起的具有固定顶鳍宽度的16nm栅极梯形体FinFET器件的电特性波动
机译:工作函数变化和线边缘粗糙度对TFET和FinFET器件以及32位CLa电路的影响
机译:一种使用谐振隧道器件的32位超快并行相关器