Metal-Oxide-Semiconductor (MOS) capacitors; Heavy ion irradiation; Single Event Gate Rupture;
机译:不同栅极氧化层厚度的SiC MOS电容器的单事件栅极破裂
机译:SiC MOS电容器中单事件门极破裂的线性能量转移依赖性
机译:薄栅极氧化物中的单事件栅极破裂
机译:具有不同栅极氧化物厚度的SiC MOS电容器中的单个事件栅极断裂
机译:单晶金属栅极MOS电容器的图案化和电特性表征。
机译:门控T 201心肌灌注单光子发射计算机断层扫描评估功能变量对冠心病患者主要不良心脏事件的预后价值
机译:薄栅氧化物中的单事件栅极破裂
机译:薄栅氧化物中的单事件栅极破裂