Gegenuberstellung zweier Messsysteme zur Geometrie-erfassung mittels strukturierter Beleuchtung: Streifenprojektion zur in-situ Prufung

摘要

Die Qualitatskontrolle spielt eine wichtige Rolle in modernen Produktionsketten. Die Erfassung von Qualitatsgrossen durch Messtechnik ermoglicht nicht nur die Gewahrleistung der Funktion von Produkten und Maschinen, sondern auch Kostenreduktionen durch Anpassen des entsprechenden Prozesses. In verschiedenen industriellen Anwendungen kommen zunehmend hochintegrierte Maschinen zum Einsatz, welche hohe Anforderungen an die Messtechnik stellen. Beispiele hierfur sind etwa Umformmaschinen in der Fertigungstechnik oder Strahltriebwerke in der Luftfahrttechnik. Insbesondere die begrenzten Abmessungen innerhalb dieser Maschinen verhindern bislang den in-situ Einsatz optischer Messverfahren. Um Geometriemessungen in diesen Bereichen durchfuhren zu konnen, werden zwei neuartige Messsysteme vorgestellt. Diese ermoglichen einen flexiblen Einsatz fur Mess- und Prufaufgaben in begrenztem Bauraum.