Total dose effect electron-hole pairs; Threshold voltage drifting; Leakage tunnel;
机译:总电离剂量辐射对先进的体CMOS技术器件中NMOS寄生晶体管的影响
机译:总剂量辐照对H栅SOI NMOS器件阈值电压的影响
机译:等离子体损坏的NMOS器件的总剂量辐射响应
机译:NMOS器件中的总剂量效应
机译:用于总电离剂量检测的新型传感器设备的开发
机译:使用氟处理的MOHOS改善总电离剂量辐射传感器的性能
机译:静态和动态条件下半导体功率器件上总电离剂量效应的研究。静态和动态条件下电离辐射总剂量对半导体功率器件的影响研究