standards; scanning electron microscope; traceability; magnification; field of view; scale; calibration;
机译:关键尺寸扫描电子显微镜在25 nm间距光栅参考下的放大倍率校准
机译:关键尺寸扫描电子显微镜在25 nm间距光栅参考下的放大倍率校准
机译:扫描电子显微镜在大倍率下的校准
机译:新的扫描电子显微镜放大倍数校准参考材料(RM)8820
机译:太赫兹扫描近场显微镜的构建和应用,用于研究低温和纳米尺度下的相关电子材料
机译:光刻生产的扫描电子显微镜放大倍率标准原型的实验室间研究
机译:在时间和放大率方面,要快速校准扫描电子显微镜中的整体漂移。
机译:用于JEOL Jsm-2扫描电子显微镜的简单恒定放大标本支架。