首页> 中国专利> 光谱仪校准方法和参考材料

光谱仪校准方法和参考材料

摘要

本发明涉及一种用于光谱仪的校准方法和一种参考材料。本发明的目的是提供一种用于光谱仪的校准方法和一种有助于光谱仪的所述校准的参考材料。所述目的通过一种用于光谱仪校准的方法来解决,其中参考材料具有均质元素内容。此外,通过惰性涂层保护所述参考材料。所述参考材料用于所述光谱仪的校准。所述目的进一步通过一种具有由惰性涂层保护的均质元素内容的参考材料来解决。

著录项

  • 公开/公告号CN106053354B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 贺利氏电子耐特国际股份公司;

    申请/专利号CN201610239570.5

  • 发明设计人 吕卡·拉莫兰特;

    申请日2016-04-18

  • 分类号G01N21/27(20060101);

  • 代理机构11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人王静;丁业平

  • 地址 比利时豪塔伦市

  • 入库时间 2022-08-23 11:04:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-10

    授权

    授权

  • 2016-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/27 申请日:20160418

    实质审查的生效

  • 2016-10-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号