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難加工基板のCMPにおけるスラリーフロー評価法に関する研究-研磨パッドとスラリーの特性がスラリーフローと研磨特性に及ぼす影響分析

机译:抛光垫抛光垫CMP中CMP浆料流动评估方法研究及浆料流动抛光特性

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摘要

本研究では,難加工基板のCMPにおけるスラリーフロー評価に関して,取得画像の輝度値に応じて,接触界面内の観察する領域(観察領域)が変化する現象を利用し,基板近傍の接触界面(基板界面)におけるスラリーフローを明らかにする.このことを通じて,研磨パッドやスラリーの特性がスラリーフローと研磨レートに及ぼす影響を定量評価するとともに多変量分析を用いることで,式(1)で与えられるプレストンの経験則をベースにした研磨レートを与える新しい実験式を提案した結果を述べる.
机译:在该研究中,关于难处理基板的CMP中的浆料流程评估,使用在接触界面中要观察到的区域(观察区域)的现象来改变基板附近的接触界面(基板)根据所获取的图像的亮度值。揭示界面处的浆液流。通过这一点,通过量化抛光垫和浆料对浆料流动和抛光速率的影响,使用多变量分析,基于公式(1)给出的普雷斯顿经验规则的抛光速率来描述提出给出的新实验等式的结果。

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