Dielectrics breakdown; Circuits; High-k; Reliability;
机译:纳米级CMOS电介质的可靠性问题
机译:动态应力对在互补金属氧化物半导体逆变器中在高温下工作的带有SiON栅极电介质的纳米级n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性的影响
机译:具有各种高k栅极电介质的非晶InGaZnO薄膜晶体管的器件性能和可靠性的比较研究
机译:纳米规模CMOS电介质的可靠性问题: - 从晶体管到产品可靠性 - 从Sion到高k电介质
机译:基于future的多金属高k栅极电介质的电气和材料特性,可用于未来的规模化CMOS技术:物理,可靠性和工艺开发。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:用于纳米级CMOS器件的超薄栅极氧化物和高k电介质的可靠性建模