Sn-4.0Ag-0.5Cu; micro-indentation; BGA; creep;
机译:时效对无铅球栅阵列(BGA)中界面(Cu,Ni)(6)(Sn,Zn)(5)和(Cu,Au,Ni)(6)Sn-5金属间化合物稳定化的影响焊点
机译:球栅阵列(BGA)组件中焊点可靠性的快速评估方法-第一部分:蠕变本构关系和疲劳模型
机译:电迁移和热应力耦合作用下微球栅阵列(μBGA)焊点的降解行为
机译:SN-AG-CU PB的缩进率依赖性蠕变行为SN-AG-CU PB-BALL网格阵列(BGA)焊点
机译:球栅阵列焊点在热和振动载荷下的热力学行为:测试和建模。
机译:Sn-Ag-Bi无铅焊料的蠕变行为
机译:老化对PB免球栅极(BGA)焊点(BGA)焊点(BGA)焊点中的界面(Cu,Ni)6(Sn,Zn)6(Sn,Zn)5和(Cu,Au,Ni)6sn5金属间金属间金属间金属间金属间化合物的影响