机译:次簇离子Ge_2〜-和Ge_3〜-用于提高SIMS深度剖析GeSi / Si异质结构的深度分辨率
机译:氩气团簇深度剖面中Bi-n(+)离子分析的采样深度,深度偏移和深度分辨率
机译:使用单晶粒深度剖析改善多晶薄膜系统俄歇成分深度剖析中的溅射深度分辨率
机译:改进SIMS深度分辨率的技术:C60 +主要离子和背面深度剖面分析
机译:利用SIMS开发超浅掺杂植入物的高分辨率深度剖析。
机译:使用C60 + SIMS深度剖析研究MALDI基质与有机薄膜的相互作用
机译:改进SIMS深度分辨率的技术:C SUB 60 +主要离子和背面深度分析