SIMS MeSIMS MALDI Matrix Matrix Enhanced Depth Profile Thin Film C60 lipids;
机译:氢,碳和氧污染引起的离子质量干扰和基质对Ti / Si多层薄膜SIMS深度剖析的影响
机译:通过ToF-SIMS深度剖析研究旋涂聚合物薄膜的链构象
机译:通过ToF-SIMS深度分析研究端基浓度与旋涂聚合物薄膜稳定性之间的关系
机译:共蒸镀Cu(In,Ga)Se_2薄膜中深度镓分布的研究及其对光伏应用的影响
机译:使用X射线衍射分析钨薄膜中的深度轮廓残余应力。
机译:TOF-SIMS有机薄膜的深度分析:单光束和双光束分析之间的比较
机译:使用C60 +和Ar +共溅射的X射线光电子能谱对有机膜进行深度剖析