机译:通过ToF-SIMS深度分析研究端基浓度与旋涂聚合物薄膜稳定性之间的关系
end-group concentration; solvent-substrate interactions; ToF-SIMS depth profiling; wetting-dewetting transition;
机译:通过ToF-SIMS深度分析研究端基浓度与旋涂聚合物薄膜稳定性之间的关系
机译:ToF-SIMS三维成像揭示了旋涂聚合物薄膜的中空内部结构
机译:勘误表:旋涂的聚(3,4-乙撑二氧噻吩)的深度轮廓表征:光谱椭圆偏振法在氩等离子体蚀刻过程中用于薄膜太阳能电池的聚苯乙烯磺酸膜(日本应用物理学杂志(2011)50(08JG02 ))
机译:使用飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)的深度分析镍硅膜膜
机译:使用ToF-SIMS和簇离子束进行分子深度分析和楔形坑斜切
机译:TOF-SIMS有机薄膜的深度分析:单光束和双光束分析之间的比较
机译:聚合物簇膜的3D ToF-SIMS成像,使用氩簇溅射深度分布