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A Fully Analytical MOSFET Model Parameter Extraction Approach

机译：完全分析MOSFET模型参数提取方法

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《IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures》|2001年||共6页
会议地点
作者
Tuinhout H.P.; Swaving S.; Institute of Electric and Electronic Engineer;
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正文语种
中图分类自动化技术、计算机技术;
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