机译:BGA封装器件中由焊球的纳米级断续断裂引起的与裕度相关的故障的时间和频率特性分析
机译:一种故障分析115Re轨道类型,由于压缩负载状态在放置放热焊接铜缆中,用于连接电连续性
机译:基于原位测试和内聚区模型的堆叠式包装的芯片连接粘合剂的断裂分析
机译:曝光垫包装模具附着引起的两个电气故障分析
机译:使用WinIGS在23.9kV至4.16kV和13.8kV至4.16kV配电变电站中进行触摸和阶跃电位分析,这些变电站带有垫装式变压器,浮地和其他裸露的不接地金属体
机译:SPADEVizR:R包用于可视化分析和集成SPADE结果
机译:超煮沸的焊料的情况:使用光学和电子显微镜和EDS的AUSN焊料模具的故障分析
机译:T-142履带板失效分析研究。