1997 IEEE International Integrated Reliability Workshop FinalReport (Cat. No.97TH8319)

机译：1997年IEEE国际综合可靠性研讨会决赛报告（货号97TH8319）

获取原文

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

The following topics were dealt with: contributors to failure;reliability test structures; designing-in reliability; wafer levelreliability

机译：涉及以下主题：导致失败的因素; 可靠性测试结构;设计可靠性晶圆级可靠性

著录项

来源
《Integrated Reliability Workshop Final Report, 1997 IEEE International》||p.1-5|共5页
会议地点
作者

展开▼
作者单位

展开▼
会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类
关键词

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Guest Editorial IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) 2019 [J] . Tyaginov Stanislav, Chbili Zakariae IEEE transactions on device and materials reliability . 2020,第2期

机译：客户编辑IEEE国际集成可靠性工作坊（IIRW）2019
2. Ieee To Hold International Integrated Reliability Workshop In October 2008 [J] . MRS bulletin . 2008,第9期

机译：亿宜将于2008年10月举办国际综合可靠性研讨会
3. The International Integrated Reliability Workshop Held October 2008 [J] . Rolf Geilenkeuser MRS bulletin . 2009,第2期

机译：国际综合可靠性研讨会于2008年10月举行
4. 2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop FinalReport (Cat. No.00TH8515) [C] . Integrated Reliability Workshop Final Report, 2000 IEEE International . -1

机译：2000年IEEE国际集成可靠性研讨会决赛报告（货号00TH8515）
5. Enhancing reliability in IEEE 802.15.4 based wireless sensor networks [D] . Xie, Weigao 2010

机译：在基于IEEE 802.15.4的无线传感器网络中增强可靠性
6. Selected articles from the IEEE International Workshop on Genomic Signal Processing and Statistics (GENSIPS2011) [O] . Ranadip Pal, Yufei Huang, Yidong Chen 2012

机译：IEEE基因组信号处理和统计国际研讨会（GENSIPS2011）的部分文章
7. 2019 IEEE International Conference on Pervasive Computing and Communications Workshops (PerCom Workshops) [O] . 2019

机译：2019 IEEE普遍计算和通信研讨会（Percom Workshops）
8. International IEEE Workshop on Experimentally Based FET Device Modelling RelatedNonlinear Circuit Design, 17-18 July 1997, Kassel, Germany [R] . 1997

机译：国际IEEE基于实验的FET器件建模研讨会相关非线性电路设计，1997年7月17日至18日，德国卡塞尔

1997 IEEE International Integrated Reliability Workshop FinalReport (Cat. No.97TH8319)

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅