CMOS integrated circuits; integrated circuit design; integrated circuit manufacture; logic design; phase change memories; readout electronics; CMOS; drift resilience; drift-resilient readout scheme; multiple-level cell storage; non volatile memory; phase-change memory; readout circuit; size 64 nm; time 450 ns; word length 6 bit; Computer architecture; Measurement; Microprocessors; Phase change materials; Phase change memory; Resistance; Voltage control;
机译:改进的写入验证方案,用于使用掺Ge的SbTe改善多级单元相变存储器的耐久性
机译:45纳米复位状态相变存储设备中的$ hbox {1} / f $噪声:表征,对存储器读出操作的影响和缩放角度
机译:基于物理的三维读取模型用于相变探针存储器
机译:用于多级相变存储器的6位漂移弹性读出方案
机译:在相变光盘上记录多级行程限制(ML-RLL)调制信号。
机译:从神经图的读出中合成半球ITD调谐:鸟类和哺乳动物中拟议编码方案的共性
机译:相变存储器:增加相变记忆玻璃的原子包装效率,以降低结晶时的密度变化(ADV。电子。Matter。9/2018)
机译:薄膜存储器的无损读出方案