机译:氮对超薄SiON中负偏压温度不稳定性的影响
机译:具有超薄SiON栅极电介质的p-MOSFET的负偏置温度不稳定性导致的时间依赖性退化
机译:体偏置对具有超薄SiON栅极电介质的p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管的负偏置温度不稳定性的影响
机译:超薄SiON中的氮对AC应力下负偏压温度不稳定性的影响
机译:SiGe PMOS器件上的总电离剂量辐射效应和负偏置温度不稳定性
机译:氮的添加加剧了低温胁迫对藓类植物碳和氮代谢的负面影响
机译:大偏压对具有超薄栅极电介质P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管负偏置温度不稳定性的影响