Computer architecture; Microprocessors; Threshold voltage; Reliability; Organizations; Flash memories; Sociology;
机译:近阈值电压的高产量和节能存储器操作的SRAM片上监测方法
机译:基于3D NAND闪存可靠性的高效阈值电压分布试验方法
机译:一种改进的聚合物绝缘子污染测试方法:固体涂层测试下的表面涂层和闪络电压分析
机译:阈值电压位图分析方法:应用于512KB 40nm闪存测试芯片
机译:一种用于集成电路制造过程评估,问题诊断和成品率分析的测试方法和测试芯片设计策略。
机译:通用串行总线闪存盘式微流控芯片电泳的制备及其在超低压下的蛋白质分析应用
机译:使用铸造结构的测试芯片和单40nm的新方法和闪存电池电气参数相关性
机译:当样本量小时,用于空间应用的存储芯片的可靠性评估方法