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基于电信智能卡芯片应用场景的闪存耐久力测试方法

         
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摘要

半导体制造工艺不断发展和特征尺寸缩小给闪存可靠性带来挑战.闪存可靠性测试与评价越来越重要.闪存可靠性测试是智能卡芯片可靠性测试中的关键测试.本文介绍了电信智能卡芯片在应用场景下的闪存耐久力测试方法.

著录项

  • 来源
    《中国集成电路》 |2017年第12期|48-51,93|共5页
  • 作者

    蒋玉茜; 杨利华; 王西国;

  • 作者单位

    北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室,北京,100102;

    北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室,北京,100102;

    北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室,北京,100102;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

    闪存; 耐久力; 应用场景; 可靠性测试;

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