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【24h】

レーザー消去された0.13μm CMOS-LSIマルチプロジェクトウェハへのTSV加工

机译:激光擦除的0.13μmCMOS-LSI多项目晶圆的TSV加工

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摘要

独自開発のセンサ・プラットフォームLSIが0.18 µmから0.13 µmルールに進化したことにともない,レーザー消去された0.13μm CMOS-LSIMPWに対するTSVプロセスを開発した。本論文では,特に技術的課題だったTSV底のバリアメタル成膜の改善について報告した。
机译:随着专有传感器平台LSI从0.18 µm到0.13 µm的发展,我们已经开发了用于激光擦除的0.13 µm CMOS-LSI MPW的TSV工艺。在本文中,我们报告了在TSV底部的阻挡金属膜形成的改进,这是一个特别的技术问题。

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