I-V 特性を用いたPV システムの不具合判定 ‐回帰式補正による判定方法の検討（その3）‐

摘要

本研究ではI-V 特性のFF を用いた不具合判定において以下の結果を得た．[1] 結晶系システムでFF の日射･温度係数，信頼区間幅を一般化することで，判定対象となるアレイの蓄積データから信頼区間を算出せずとも，僅かな異常の判定が可能となった．[2] 回帰式補正によって判定を行う場合，アレイ単位での診断では1 クラスタの異常を判定することが困難であるため，より軽微な歪みを判定したい場合にはストリング単位での測定など診断範囲を狭める必要がある．