Random access memory; Transistors; Stability analysis; Delays; CMOS technology; Computer architecture;
机译:具有8T软错误的稳健32kb宏,65nm CMOS SRAM单元
机译:在90 nm CMOS中具有位交错和差分读取方案的32 kb 10T次阈值SRAM阵列
机译:一个工作频率低至0.57 V的512kb 8T SRAM宏,带有一个交流耦合的灵敏放大器和45 nm SOI CMOS嵌入式数据保持电压传感器
机译:具有32 nm SOI CMOS技术的新型差分8T位单元的64 kb多阈值SRAM阵列
机译:具有45nm CMOS SOI技术的具有32:1串行器的2位1Gsps ADC阵列
机译:具有26400个电极的1024通道CMOS微电极阵列用于体外记录和刺激电源细胞
机译:具有32nm SOI CMOS中的用于低压操作的64 kB差分单端口12T SRAM设计,用于低压操作