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A consideration of reflection-position measurement by optical frequency domain reflectmetry of serrodyne modulation

机译：晶体型调节光学频域反射测量的反射位置测量

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This paper presents a measurement method of reflection-position by Optical Frequency Domain Reflectmetry of serrodyne modulation. The influence of difference between a beat signal frequency and a serrodyne frequency is examined on serrodyne modulation. It is showed that position measurement is not influenced by frequency difference.

机译：本文介绍了通过晶体调制的光学频域反射测量的反射位置的测量方法。在Serrodyne调制上检查拍号信号频率与血管阳性频率之间的差异的影响。结果表明，位置测量不受频率差的影响。

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来源
《SICE Annual Conference》|1999年||共2页
会议地点
作者
Y. Shinoda; H. Nakayama; Y. Kaji; D. Maeda; T. Higo;
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正文语种
中图分类 TH7-53;
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