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机译:高K栅极电介质堆叠的电压和温度相关的栅极电容和电流模型
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:(邀请的)金属栅/高κ介质栅极堆叠可靠性;或者我如何学会与氧化物一起生活
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