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机译:高K栅极电介质堆叠的电压和温度相关的栅极电容和电流模型
Fan, Yang-Yu;
The University of Texas at Austin;
机译:GaN上Al_2O_3栅介质堆叠中缺陷的随温度变化的电容电压分析
机译:GaN上Al2O3栅介质堆叠中缺陷的随温度变化的电容电压分析
机译:从与温度相关的电流-电压和电容-电压测量中探索氧化镧栅介质膜的俘获特性
机译:高性能块状平面20nm替代栅极high-k金属栅极技术的内在电介质堆叠可靠性以及与28nm栅极首次高k金属栅极工艺的比较
机译:对于高k栅极电介质,一种形成半导体结构的方法和捕获杂质氧的结构(清除高k栅极电介质的金属叠层)
机译:消除高K栅极介电层的金属堆垛,当通过门电极将氧原子扩散到高K栅极介电层中时,能够捕获氧原子
机译:高k栅介质的半导体结构俘获杂质氧以及形成结构的方法(高k栅介质的捕获金属堆)
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