MEMS; actuator; PZT; magnetron sputtering; sound transducer;
机译:用于MEMS的压电薄膜-r.f.法在Si上生长的PZT,0.7PMN-0.3PT和0.9PMN-0.1PT薄膜的比较研究磁控溅射
机译:晶片弯曲技术用于测定PZT薄膜的横向压电系数(d(31))
机译:晶片弯曲技术测定PZT薄膜的横向压电系数(d↓(31))
机译:8'硅晶片优化的压电PZT薄膜生产,用于微机械应用
机译:CSD制备的PZT膜的压电和铁电性质及其应用
机译:LaNiO3缓冲不锈钢箔上的压电PZT厚膜用于柔性设备应用
机译:纳米存储应用中Pb(Zr,Ti)O 3 sub>(PZT)薄膜的沉积温度对压电响应的影响