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机译:晶片弯曲技术用于测定PZT薄膜的横向压电系数(d(31))
机译:晶片弯曲技术用于测定PZT薄膜的横向压电系数(d(31))
机译:使用带有溅射沉积的Pt应变仪的晶片弯曲技术对横向压电系数e _(31,f)进行晶片映射
机译:(100)/(001)织构PZT薄膜的有效横向压电系数e31,f
机译:薄膜厚度对PZT薄膜横向压电系数(D_(31))的幅度和老化行为的影响
机译:钛酸锆钛酸铅薄膜的双轴应力效应和横向压电(d(31))表征的研究。
机译:晶体学对PZT薄膜压电性能的贡献
机译:PZT薄膜的压电系数
机译:pZT薄膜纵向压电211系数的测量与计算