particle standard; surface inspection tools; electrostatic deposition; nist-traceable size;
机译:用于掩膜表面检测系统表征的NIST可追踪粒度的$ {rm SiO} _ {2} $纳米颗粒的受控沉积
机译:NIST可追踪粒度的纳米颗粒的可控沉积,用于掩模表面检测系统表征
机译:通过TDMA对NIST可追踪尺寸的高度单分散纳米颗粒进行分类,并通过电泳控制表面上的沉积点尺寸
机译:作为光掩模应用的额外尺寸标准,控制沉积NIST可追踪纳米颗粒
机译:物理显影剂的荧光标签:控制多孔表面上潜在指纹上银纳米颗粒的大小和沉积。
机译:了解和控制总体增长原子层沉积中铂纳米颗粒的制备:一条通往尺寸选择
机译:通过新型低温喷雾化学气相沉积法研究ag纳米颗粒薄膜的尺寸和密度,研究其机理,颗粒生长和光学模拟