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Microscopic Theory of Energy Distribution of SiO2/Si Interface Traps: A Survey of History and Some New Results

机译：SiO2 / Si界面陷阱能量分布的微观理论：历史回顾和一些新结果

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《2006 8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology(第八届国际固态和集成电路技术会议)论文集》|2006年|1227-1233|共7页
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