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机译:局部深度瞬态瞬态光谱使用超高阶扫描非线性介电显微镜及其在成像SiO2 / SIC接口陷阱的二维分布中的应用
Tohoku Univ Res Inst Elect Commun Aoba Ku Sendai Miyagi 9808577 Japan;
Tohoku Univ Res Inst Elect Commun Aoba Ku Sendai Miyagi 9808577 Japan;
机译:局部深度瞬态瞬态光谱使用超高阶扫描非线性介电显微镜及其在成像SiO2 / SIC接口陷阱的二维分布中的应用
机译:超高阶扫描非线性介电显微镜的局部深层瞬态光谱学及其在SiO_2 / SiC界面阱二维分布成像中的应用
机译:基于超高阶扫描非线性介电显微镜的局部深能级瞬态光谱技术对SiO_2 / SiC界面中陷阱分布的二维成像
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