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【24h】

New constraint for Vth optimization for sub 32nm node CMOS gates scaling

机译:低于32nm节点CMOS栅极缩放的Vth优化的新约束

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摘要

We show new constraint of Vth scaling for logic blocks from inverter operation viewpoint. In lower Vth region, delay time in inverter chain saturates because of the loss in overdrive for the input of MOSFETs. This loss dominates the inverter speed in scaled V dd region and we propose a new relaxed scaling scenario. This accounts for the speed loss using a simplified model which adequately manifests the new phenomenon
机译:从逆变器操作的角度出发,我们展示了逻辑块的第V 缩放的新约束。在较低的第V 区域,由于MOSFET输入的过驱动损耗,逆变器链中的延迟时间饱和。该损耗决定了比例缩放后的V dd 区域中的逆变器速度,我们提出了一种新的宽松比例缩放方案。这使用简化的模型解决了速度损失,该模型充分体现了新现象

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