hafnium compounds; dielectric thin films; semiconductor device breakdown; semiconductor device reliability; electron mobility; MOCVD coatings; MOSFET; charge trapping; device performance degradation; MOCVD hafnium-based gate dielectric stack structures; interfacial oxide; inversion charge loss; electron trapping; high field electron mobility; HfO/sub 2/;
机译:具有$ hbox {HfO} _ {2} / hbox {Dy} _ {2} hbox {O} _ {{3} $)栅堆叠的锗基MOS器件的介电弛豫和电荷陷阱特性研究
机译:通过掺氮减少高可靠的4H-SiC MIS器件中AI_2O_3 / SiO_2堆叠栅极电介质中的电荷俘获位点
机译:基于石墨纳米晶体作为电荷俘获元素和高k Ta2O5作为受控栅介质的高性能有机纳米浮栅存储器件
机译:基于MoCVD铪基介质堆结构的电荷诱捕和装置性能下降
机译:先进CMOS技术的gate基栅极电介质的电荷捕获研究。
机译:非易失性存储应用中Al2O3-TiAlO-SiO2栅堆叠的电子结构和电荷俘获特性
机译:具有HfO $ _2 $ / Dy $ _2 $ O $ _3 $门叠层的锗基MOS器件的介电弛豫和电荷陷阱特性研究