首页> 外文会议>Electron Devices Meeting, 1999. IEDM Technical Digest. International >A 0.18 /spl mu/m 90 GHz f/sub T/ SiGe HBT BiCMOS, ASIC-compatible, copper interconnect technology for RF and microwave applications
【24h】

A 0.18 /spl mu/m 90 GHz f/sub T/ SiGe HBT BiCMOS, ASIC-compatible, copper interconnect technology for RF and microwave applications

机译:0.18 / spl mu / m 90 GHz f / sub T / SiGe HBT BiCMOS,ASIC兼容,铜互连技术,用于RF和微波应用

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摘要

We present a self-aligned, 0.18 /spl mu/m emitter width SiGe HBT with f/sub T/ of 90 GHz, f/sub MAX/ of 90 GHz (both at V/sub CB/=0.5 V), NF/sub MIN/ of 0.4 dB, and BV/sub CEO/ of 2.7 V. We also demonstrate that this device is integrable with IBM's 0.18 /spl mu/m, 1.8/3.3 V copper metallization CMOS technology with little effect on the CMOS device properties and design rules.
机译:我们提出了一种自对准,0.18 / splμm/ m的发射极宽度SiGe HBT,其f / sub T /为90 GHz,f / sub MAX /为90 GHz(均为V / sub CB / = 0.5 V),NF / sub MIN /为0.4 dB,BV / sub CEO /为2.7V。我们还证明了该器件可与IBM的0.18 / spl mu / m,1.8 / 3.3 V铜金属化CMOS技术集成在一起,而对CMOS器件的性能影响很小和设计规则。

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