机译:线宽标准,用于校准AFM,SEM和OCD工具
机译:原子力显微镜(AFM)与超薄切片机相结合:一种用于生物和聚合物样品的串行截面层析成像和AFM / TEM互补结构分析的新型设备
机译:原子力显微镜用微尖端扫描法分析光刻胶微图案的附着性能
机译:颜色力显微镜(AFM)光致抗蚀剂试验结构的分析,用于SEM作为内部线宽标准
机译:高速AFM(原子力显微镜)通过微成型和图案转移到聚合物衍生的陶瓷上而形成悬臂。
机译:新型美学纤维增强聚合物复合树脂弓丝:比较原子力显微镜(AFM)和场发射扫描电子显微镜(FESEM)的研究
机译:纸浆和纸张标本扫描电子显微镜(SEM)和电子探针微透析(EPMA)的进展。 (第二部分)。使用现场发射-SEM(Fe-SEM)和原子力显微镜(AFM)在高放大率下观察。
机译:半导体纳米结构分析的简易原子力显微镜(ezaFm)控制的优化。