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【2h】

Progress of Scanning Electron Microscopy (SEM) and Electron Probe Microanalysis (EPMA) for Pulp and Paper Specimens. (Part II). Observation at High Magnification by Using Field Emission-SEM (FE-SEM) and Atomic Force Microscope (AFM).

机译：纸浆和纸张标本扫描电子显微镜（SEM）和电子探针微透析（EPMA）的进展。（第二部分）。使用现场发射-SEM（Fe-SEM）和原子力显微镜（AFM）在高放大率下观察。

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作者
Tadahira Hamada;
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年度 1999
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原文格式 PDF
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中图分类
入库时间 2022-08-20 22:13:11

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