机译:结晶硅晶片的任意寿命和注入范围的校准光致发光寿命测量的有效性
机译:硅晶片上准稳态光致发光和光导寿命测量中的俘获伪像
机译:在磷化铁蒸气中退火获得的未掺杂半绝缘InP晶片的光致发光评估
机译:INP晶片中的光致发光寿命测量
机译:半导体闪烁体中厚n掺杂InP晶片的光学和发光研究
机译:单电子INP / GAINP的磁光光致发光光谱中的分数充电状态
机译:动态光致发光寿命成像,用于依赖注入的寿命测量
机译:Etude des surfaces d'Inp et des Interfaces Inp Isolant par photoluminescence(Inp表面和Inp绝缘体界面的光致发光研究)