2002年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文摘要（2）——假同晶GaAs和InGaAs／InAlAs／InP HEMT MMIC的高温加速寿命试验引起的DC和RF退化的演变

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• 来源
  《电子产品可靠性与环境试验》|2003年第4期|63-63|共1页
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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 微波半导体器件;
• 关键词

  微波集成电路放大器; MMIC; 加速寿命试验; RF退化; DC退化;