SRAM; physical unclonable function; test structure;
机译:使用可寻址单元阵列测试结构测量静态随机存取存储器上电状态
机译:通过使用器件矩阵阵列直接测量SRAM噪声裕度与各个单元晶体管可变性之间的相关性
机译:深亚微米CMOS技术用于多媒体应用的新型低功耗SRAM位单元结构的表征
机译:使用可寻址SRAM单元阵列测试结构测量PUF应用的SRAM电量状态
机译:嵌入式SRAM的时间驱动测试方法。
机译:与SRAM PUFS的秘密密钥绑定多次观察
机译:深亚微米CMOS技术用于多媒体应用的新型低功耗SRAM位单元结构的表征