用于测量SRAM阵列电容的测试电路及测量SRAM阵列电容的方法

摘要

本发明提供一种用于测量SRAM阵列电容的测试电路及测量SRAM阵列电容的方法。所述测试电路包括：待测SRAM阵列、用于与待测SRAM阵列进行比较的比较SRAM阵列、与待测SRAM阵列相对应的第一PMOS管和第一NMOS管、以及与比较SRAM阵列相对应的第二PMOS管和第二NMOS管。本发明所提供的用于测量SRAM阵列电容的测试电路仅在测试结构中添加若干器件，结构简单，易于实现，并且通过该测试电路，可以通过测量电流而非直接测量电容来间接测得电容，测量速度更快，测量精度更高。