掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
International Conference on Microelectronic Test Structures
International Conference on Microelectronic Test Structures
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
1.
Interface trap density estimation in FinFETs from the subthreshold current
机译:
根据亚阈值电流估算FinFET中的接口陷阱密度
作者:
J. Schmitz
;
B. Kaleli
;
P. Kuipers
;
N. van den Berg
;
S. M. Smits
;
R. J. E. Hueting
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Complementary MOSFETs (CMOSFETs);
Current;
FinFETs;
Interface states;
MOS devices;
Traps;
2.
A high power curve tracer for characterizing full operational range of SiC power transistors
机译:
高功率曲线跟踪仪,用于表征SiC功率晶体管的整个工作范围
作者:
Yohei Nakamura
;
Michihiro Shintani
;
Takashi Sato
;
Takashi Hikihara
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
3.
A new write stability metric using extended write butterfly curve for yield estimation in SRAM cells at low supply voltage
机译:
利用扩展的写蝶形曲线的新写稳定性度量,用于在低电源电压下SRAM单元中的良率估算
作者:
Hao Qiu
;
Kiyoshi Takeuchi
;
Tomoko Mizutani
;
Takuya Saraya
;
Masaharu Kobayashi
;
Toshiro Hiramoto
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
SRAM;
butterfly curve;
low voltage;
normal distribution;
write noise margin;
4.
A reliable Schottky barrier height extraction procedure
机译:
可靠的肖特基势垒高度提取程序
作者:
Bing-Yue Tsui
;
Tze-Yu Fu
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Schottky barrier height;
field emission;
image-force barrier lowering;
thermionic emission;
thermionic field emission;
5.
A test structure for analysis of metal wire effect on temperature distribution in stacked IC
机译:
分析金属线对堆叠式IC中温度分布的影响的测试结构
作者:
Toshihiro Matsuda
;
Haruka Demachi
;
Hideyuki Iwata
;
Tomoyuki Hatakeyama
;
Takashi Ohzone
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Integrated circuit packaging;
integrated circuit design;
integrated circuit measurements;
integrated circuit thermal factors;
stacked integrated circuits;
temperature measurement;
6.
A test structure set for on-wafer 3D-TRL calibration
机译:
晶圆上3D-TRL校准的测试结构集
作者:
M. Potreau
;
A. Curutchet
;
R. DEsposito
;
M. De Matos
;
S. Fregonese
;
T. Zimmer
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Calibration;
HBT;
calibration comparison;
deembedding;
error correction;
scattering parameter measurement;
7.
Advanced ioff measureable MOSFET array with eliminating leakage current of peripheral circuits
机译:
先进的ioff可测量MOSFET阵列,消除了外围电路的泄漏电流
作者:
Tsuyoshi Suzuki
;
Shigetaka Mori
;
Hidetoshi Oishi
;
Masaaki Bairo
;
Manabu Tomita
;
Kazuhisa Ogawa
;
Yuzo Fukuzaki
;
Hidetoshi Ohnuma
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
CMOS switch;
body bias control;
junction leakage current;
off current;
transistor array;
8.
An efficient method to evaluate 4 million micro-bump interconnection resistances for 3D stacked 16-mpixel image sensor
机译:
评估3D堆叠式16兆像素图像传感器的400万微凸点互连电阻的有效方法
作者:
Yoshiaki Takemoto
;
Hideki Kato
;
Torn Kondo
;
Naohiro Takazawa
;
Mitsuhiro Tsukimura
;
Haruhisa Saito
;
Kenji Kobayashi
;
Jun Aoki
;
Shunsuke Suzuki
;
Yuichi Gomi
;
Seisuke Matsuda
;
Yoshitaka Tadaki
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
3D stacking;
CMOS image sensor;
micro bump interconnections;
testing circuits;
9.
An end-point visualization test structure for all plasma dry release of Deep-RIE MEMS
机译:
适用于Deep-RIE MEMS的所有等离子体干燥释放的端点可视化测试结构
作者:
Yuki Okamoto
;
Eric Lebrasseur
;
Isao Mori
;
Yoshio Mita
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
10.
Challenges of modeling the Split-Gate SuperFlash?? Memory Cell with 1.1V Select Transistor
机译:
对Split-Gate SuperFlash建模的挑战?具有1.1V选择晶体管的存储单元
作者:
M. Tadayoni
;
S. Martinie
;
O. Rozeau
;
S. Hariharan
;
C. Raynaud
;
N. Do
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
11.
Chip level characterisation studies of Ni and NiFe electrochemical deposition using test structures
机译:
使用测试结构对Ni和NiFe电化学沉积的芯片级特性研究
作者:
J. Murray
;
R. Perry
;
J. G. Terry
;
S. Smith
;
A. R. Mount
;
A. J. Walton
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Electrodeposition;
MEMS;
NiFe;
Nickel;
optimisation;
stress;
test structures;
12.
Comparing current flows in ultrashallow pn-/Schottky-like diodes with 2-diode test method
机译:
使用2二极管测试方法比较超浅pn /肖特基二极管中的电流
作者:
X. Liu
;
L. K. Nanver
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Schottky diodes;
arsenic;
boron;
chemical-vapor deposition;
current-voltage characteristics;
junction diodes;
lateral bipolar transistor operation;
phosphorus;
13.
Dedicated test-structures for investigation of the thermal impact of the BEOL in advanced SiGe HBTs in time and frequency domain
机译:
用于在时域和频域中研究高级SiGe HBT中BEOL的热影响的专用测试结构
作者:
Rosario DEsposito
;
Sebastien Fregonese
;
Thomas Zimmer
;
Anjan Chakravorty
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
BEOL;
Cth;
HiCuM;
Rth;
SiGe HBT;
pulsed measurements;
recursive thermal network;
thermal impedance;
14.
Demonstration of MOS capacitor measurement for wafer manufacturing using a Direct Charge Measurement
机译:
演示了使用直接电荷测量技术进行晶圆制造的MOS电容器测量
作者:
Kenichi Takano
;
Masaharu Goto
;
Emesto Shiling
;
Arthur Gasasira
;
Jiun-Hsin Liao
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Capacitance measurement;
Direct charge measurement;
LCR meter;
MOS capacitor;
Parallel testing;
15.
Design and use of an array-based test structure to characterize mechanical stress effects caused by WLCSP solder bumps
机译:
设计和使用基于阵列的测试结构来表征由WLCSP焊料凸点引起的机械应力影响
作者:
Hans Tuinhout
;
Rob van Dalen
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
WLCSP;
array test structure;
mechanical stress characterization;
microelectronic test structure;
solder bump;
16.
Extraction of floating-gate capacitive parameters in split-gate flash memory cells
机译:
分离栅闪存单元中浮栅电容参数的提取
作者:
Yuri Tkachev
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Flash memory;
capacitance;
floating gate;
single-electron transfer;
tunneling;
17.
Highly effective and versatile test structure for evaluating dielectric properties using flexible pulse generator on chip
机译:
高效,通用的测试结构,可通过片上灵活的脉冲发生器评估介电性能
作者:
Shigetaka Mori
;
Ken Sawada
;
Manabu Tomita
;
Kazuhisa Ogawa
;
Tsuyoshi Suzuki
;
Hidetoshi Oishi
;
Masaaki Bairo
;
Yuzo Fukuzaki
;
Hidetoshi Ohnuma
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
charge-based capacitance measurement;
charge-pumping current;
dielectric properties;
gate oxide;
interface trap density;
start-stop pulse controller;
tunable ring oscillator;
18.
Hotspot test structures for evaluating carbon nanotube microfin coolers and graphene-like heat spreaders
机译:
用于评估碳纳米管微翅片冷却器和类似石墨烯的散热器的热点测试结构
作者:
Kjell Jeppson
;
Jie Bao
;
Shirong Huang
;
Yong Zhang
;
Shuangxi Sun
;
Yifeng Fu
;
Johan Liu
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
boron nitride;
graphene;
heat spreaders;
hotspots;
resistance temperature detectors;
test structure;
19.
Impact of a laser pulse on HfO2-based RRAM cells reliability and integrity
机译:
激光脉冲对基于HfO2的RRAM单元可靠性和完整性的影响
作者:
A. Krakovinsky
;
M. Bocquet
;
R. Wacquez
;
J. Coignus
;
D. Deleruyelle
;
C. Djaou
;
G. Reimbold
;
J-M. Portal
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
HfO2;
Integrity;
Laser;
Optical Attacks;
OxRRAM;
Security;
Simulation;
Thermal Attacks;
20.
Measurement of SRAM power-up state for PUF applications using an addressable SRAM cell array test structure
机译:
使用可寻址SRAM单元阵列测试结构测量PUF应用的SRAM上电状态
作者:
Kiyoshi Takeuchi
;
Tomoko Mizutani
;
Takuya Saraya
;
Masaharu Kobayashi
;
Toshiro Hiramoto
;
Hirofumi Shinohara
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
SRAM;
physical unclonable function;
test structure;
21.
Microfabricated test structures for thermal gas sensor
机译:
热气传感器的超细测试结构
作者:
M. Denoual
;
M. Pouliquen
;
D. Robbes
;
O. de Sagazan
;
J. Grand
;
H. Awala
;
S. Mintova
;
S. Inoue
;
A. Mita-Tixier
;
Y. Mita
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
chemical sensor;
microfabrication;
thermal device;
zeolite;
22.
New access resistance extraction methodology for 14nm FD-SOI technology
机译:
适用于14nm FD-SOI技术的新型访问电阻提取方法
作者:
Jean-Baptiste Henry
;
Antoine Cros
;
Julien Rosa
;
Quentin Rafhay
;
Grard Ghibaudo
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Access resistance;
FD-SOI;
Kelvin structures;
model;
parameter extraction methodology;
23.
New power-gating architectures using nonvolatile retention: Comparative study of nonvolatile power-gating (NVPG) and normally-off architectures for SRAM
机译:
使用非易失性保留的新型电源门控架构:SRAM的非易失性电源门控(NVPG)和常关架构的比较研究
作者:
Yusuke Shuto
;
Shuuichirou Yamamoto
;
Satoshi Sugahara
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
FinFET;
break-even time;
nonvolatile SRAM;
power-gating;
24.
Novel test structure for evaluating dynamic dopant activation after ion implantation
机译:
用于评估离子注入后动态掺杂剂活化的新型测试结构
作者:
Jung-Ruey Tsai
;
Ruey-Dar Chang
;
Cheng-Hui Chou
;
Hsueh-Chun Liao
;
Sz-Kai Huang
;
Sung-Hung Lin
;
Jui-Chang Lin
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Hall measurement;
SPER;
dopant activation;
germanium;
25.
Proposal of a new array structure to enable the detection of soft failure and the aging test with overcurrent of resistive element
机译:
提出了一种新的阵列结构的建议,该结构可通过电阻性元件的过电流检测软故障并进行老化测试
作者:
Shingo Sato
;
Yasuhisa Omura
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
aging test;
array structure;
reliability;
soft failure;
variability;
26.
Random telegraph noise measurement and analysis based on arrayed test circuit toward high S/N CMOS image sensors
机译:
基于高S / N CMOS图像传感器的阵列测试电路的随机电报噪声测量与分析
作者:
Rihito Kuroda
;
Akinobu Teramoto
;
Shigetoshi Sugawa
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
CMOS image sensor;
arrayed test circuit;
random telegraph noise;
27.
Spring-constant measurement methods for RF-MEMS capacitive switches
机译:
用于RF-MEMS电容开关的弹簧常数测量方法
作者:
Jiahui Wang
;
Jeroen Bielen
;
Cora Salm
;
Jurriaan Schmitz
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
MEMS switch;
capacitancevoltage measurement;
resonance;
spring constant;
28.
Statistical analysis and modeling of Random Telegraph Noise based on gate delay variation measurement
机译:
基于门延迟变化测量的随机电报噪声统计分析与建模
作者:
A. K. M. Mahfuzul Islam
;
Tatsuya Nakai
;
Hidetoshi Onodera
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
29.
Test circuits to characterize setup/hold/access times, minimum voltage and maximum frequency of operation for memory compilers
机译:
测试电路,用于描述建立/保持/访问时间,存储器编译器的最小电压和最大工作频率
作者:
Nitin Dhamija
;
Gaurav Lalani
;
Mike Nelson
;
Joe Brown
;
Henning Spruth
;
Puneet Sharma
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
BIST;
Fmax;
Vmin;
access;
hold;
memories;
setup;
test chip;
30.
Test structures for CMOS RF reliability assessment
机译:
CMOS RF可靠性评估的测试结构
作者:
Leonhard Hei
;
Andreas Lachmann
;
Reiner Schwab
;
Georgos Panagopoulos
;
Peter Baumgartner
;
Mamatha Yakkegondi Virupakshappaa
;
Doris Schmitt-Landsiedel
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
31.
Test structures for the characterisation of conductive carbon produced from photoresist
机译:
表征由光致抗蚀剂产生的导电碳的测试结构
作者:
S. Scarf
;
S. Smith
;
A. Tabasnikov
;
I. Schmser
;
E. Blair
;
A. S. Bunting
;
A. J. Walton
;
A. F. Murray
;
J. G. Terry
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Biosensors;
Carbon;
Electrochemistry;
Microelectronic Test Structures;
Microsystems;
32.
Test structures of LASCR device for RF ESD protection in nanoscale CMOS process
机译:
用于纳米CMOS工艺中RF ESD保护的LASCR器件的测试结构
作者:
Chun-Yu Lin
;
Rong-Kun Chang
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
CMOS;
electrostatic discharge (ESD) protection;
radio frequency (RF);
33.
Test structures to support the development and process verification of microelectrodes for high temperature operation in molten salts
机译:
测试结构可支持用于熔融盐中高温操作的微电极的开发和过程验证
作者:
E. O. Blair
;
D. K. Corrigan
;
I. Schmueser
;
J. G. Terry
;
S. Smith
;
A. R. Mount
;
A. J. Walton
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
34.
Top-gated MoS2 capacitors and transistors with high-k dielectrics for interface study
机译:
具有高k电介质的顶级MoS2电容器和晶体管用于接口研究
作者:
Peng Zhao
;
Angelica Azcatl
;
Pavel Bolshakov-Barrett
;
Robert M. Wallace
;
Chadwin D. Young
;
Paul K. Hurley
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Molybdenum disulfide (MoS2);
capacitor;
high-k;
interface defects;
top-gated transistor;
35.
Transistor self-heating correction and thermal conductance extraction using only DC data
机译:
仅使用DC数据进行晶体管自热校正和热导提取
作者:
Colin C. McAndrew
;
Alexandra Lorenzo-Cassagnes
;
Olin L. Hartin
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
36.
Ultra-small and ultra-reliable innovative fuses scalable from 0.35um to 28nm
机译:
超小,超可靠的创新型保险丝,可扩展至0.35um至28nm
作者:
Shine Chung
;
Wen-Kuan Fang
;
YC Hsu
;
JY Hsiao
;
Lupin Lin
;
Wen-Hua Yu
会议名称:
《International Conference on Microelectronic Test Structures》
|
2016年
关键词:
Electrical Fuse;
OTP;
e-fuse;
意见反馈
回到顶部
回到首页