Capacitance; Fingers; Routing; Resistance; Inductance; Military standards;
机译:使用BVA引线键合改善系统级封装的集成度和电气性能
机译:改善用于3D / MCM包装的超长引线键合线圈的下垂的理论研究
机译:低α绿色铸模化合物在低四方扁平封装上多层钯-铜引线键合的线扫改进研究
机译:引线键合封装不同层对不同层的电气性能研究
机译:在引线键合技术中,研究低k裸片上直径为0.8密耳(20微米)的金键合引线的球形键合完整性。
机译:基于改进三层阳极键合和高性能吸气剂的高Q晶圆级封装及其在微谐振压力传感器中的评估
机译:用于半导体封装基板II ^ 镀镍的电镀Ni / Pd / Au电镀; Au电镀下层结构对Au引线键合强度的影响^ ^ mdash;