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Thermal-Power Delivery Network Co-Analysis for Multi-Die Integration

机译:多芯片集成的热电输送网络共同分析

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摘要

In this paper, we present a thermal-power delivery network (PDN) co-analysis framework to analyze various multi-die integration schemes. In the proposed approach, we capture the interdependencies between temperature distribution of the dice in a package and the supply voltage noise. We use standalone thermal and PDN analyses as references to compare our co-analysis results. Using a multi-die package and a bridge-based 2.5-D package case studies, our analysis shows a 10-12% overestimation in steady-state temperature and power supply noise.
机译:在本文中,我们提供了一种热电传递网络(PDN)共分析框架,用于分析各种多模集成方案。在所提出的方法中,我们在包装中捕获骰子的温度分布与电源电压噪声之间的相互依赖性。我们使用独立的热量和PDN分析作为参考,以比较我们的共同分析结果。使用多模封装和基于桥梁的2.5-D包案例研究,我们的分析显示稳态温度和电源噪音的高度估计率为10-12%。

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