机译:键合参数对微间距Cu / Ni / SnAg微凸点微芯片芯片间互连可靠性的影响
机译:单芯片和多芯片堆叠式16 Mbit DRAM的辐射效应表征和测试方法
机译:15μm节距的Cu / Au互连依靠自对准的低温热超声倒装芯片键合技术来实现高级芯片堆叠应用
机译:使用Cusn键合技术芯片芯片密封粘接和多芯片堆叠
机译:无助焊剂倒装芯片键合工艺和空中无助焊剂键合技术。
机译:带有毛细管自组装的氧化物-氧化物热压直接键合技术用于多芯片至晶圆异质3D系统集成
机译:通过光子线键合实现多芯片集成:将表面和边缘发射激光器连接到硅芯片