机译:热循环载荷下考虑参数不确定性的倒装芯片定量可靠性分析
机译:超薄3D-IC封装在制造工艺和温度循环试验下的超薄3D-IC包的可靠性评估
机译:用于三维成像软件包的可靠性和准确性,用于对锥梁梁上透镜的上气道3D分析计算断层扫描图像
机译:3D包装可靠性的微观结构考虑因素
机译:三维封装的结构优化及可靠性研究TSV&BEOL裂缝行为及功率循环对可靠性倒装芯片封装的影响
机译:在锥束计算机断层扫描图像上对上呼吸道进行3D分析的三种成像软件包的可靠性和准确性
机译:高密度包装技术的趋势1.关于堆积多层印刷配线板中铜路电路可靠性的一些考虑因素。