机译:存在过程和温度变化的单事件多翻转(SEMU)容错锁存器设计
机译:SUBHDIP:基于过程变化的亚阈值达林顿对基于阈值的NBTI传感器电路
机译:高性能,变异宽度CNFET三元全加法器工艺,电压和温度变化 - 弹性设计
机译:NBTI耐受微体系结构在过程变化的存在下
机译:负偏置温度不稳定性(NBTI)容忍寄存器文件的设计。
机译:评估扫描仪背景噪声对听觉处理的影响。二。 fMRI研究使用稀疏设计比较了在不存在和存在记录的扫描仪噪声的情况下的听觉处理
机译:存在工艺变化的NBTI容忍微体系结构设计