secondary electron; dopant contrast; scanning electron microscopy; silicon; doped; oxide; carbon; metal oxide semiconductor;
机译:低压扫描电子显微镜观察氧在掺杂半导体二次电子对比度中的作用
机译:关于各种类型的二次电子(SE; SE; SE)对LVSEM性能的作用。
机译:极慢电子在掺杂半导体扫描成像中的注入电荷对比机制
机译:LVSEM中氧在掺杂半导体二次电子对比度中的作用
机译:用于光电子和磁电子应用的外延III-V半导体的掺杂。
机译:稀磁性半导体锰掺杂砷化镓的元素和动量分辨电子结构
机译:晶体硅激光掺杂的二次电子显微镜掺杂物对比图像(SEMDCI)和电子束感应电流(EBIC)的比较
机译:半导体中掺杂剂的Z-对比成像和电子通道分析