机译:O.Tabata和T.Tsuchiya(编):MEMS的可靠性:材料和器件的测试Wiley-VCH,魏因海姆,xx + 303页,110英镑,ISBN 978-3-527-31494-2
机译:固溶硬化的铂合金挠性材料可提高MEMS器件的性能和可靠性
机译:高温老化过程中接合材料对双面封装SiC功率器件可靠性的影响
机译:智能MEMS包装:SMM用于增加设备材料可靠性
机译:栅极氧化层和MEMS器件级封装中高级电介质的可靠性。
机译:超越CMOS:III-V器件RF MEMS和其他异种材料/器件与Si CMOS的异构集成以创建智能微系统
机译:用于可植入设备的mEms封装材料的生物相容性评估