机译:底部填充封装工艺导致倒装芯片封装翘曲对互连可靠性的影响
机译:带散热器的底部填充封装倒装芯片的可靠性
机译:集成焊料回流和底部填充封装工艺的材料,可用于板上倒装芯片组装
机译:根据填充封装过程的倒装芯片包装的可靠性
机译:芯片封装相互作用(CPI)及其对倒装芯片封装可靠性的影响。
机译:包装和非气密封装技术适用于植入式mEms器件倒装芯片
机译:无铅倒装芯片封装的界面断裂韧性对底部填充的温度效应
机译:Xilinx倒装芯片CCGa封装失效分析物理:任务环境对Lp2底部填充和aTI盖层粘接材料性能的影响。